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COC老化與測試

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為保證COC生產的良率,COC芯片在生產工藝過程中,需要經過老化篩選、芯片測試環節,普賽斯設計了老化系統和測試機,裝載芯片的夾具兼容在老化抽屜和測試機的使用,在老化和測試工藝過程中可避免重復上下料,一站式完成COC芯片的生產??赏瑫r支持1280顆芯片的老化,提高生產產能。

       


方案框圖

       

COC芯片上料到夾具上,夾具放置在抽屜中,抽屜可插入單層老化箱中,多層老化箱可搭入機架,形成COC老化系統,實現對芯片的溫度和加電控制,并通過老化軟件實時監控老化數據。

老化之后的芯片,不需要從夾具上取下來,直接將夾具放到COC測試機上測試,COC測試機支持芯片的LIV掃描,通過測試軟件可控制光譜儀,實現光譜測試。

方案特點


1. 極易操作:上料采用導向槽操作,對于小尺寸產品上料簡單、容易、安全

2. 獨立的抽屜式:每個抽屜可適用于不同封裝的產品,只需要更換底部夾具,抽屜式設計確保整體溫度均勻性良好

3. EOS防護:采取緩加電、緩下電方式,做了各種異常上電、下電的防護,使老化測試過程的COC芯片安全

4. 異常電源保護:內置UPS,保證異常斷電時客戶chip的安全

5. 數據庫存儲:外置電腦,一套軟件監控一臺設備,過程數據存儲于本地或者服務器數據庫

6. 精準LIV測試:TEC精準控溫下支持chipLIV快速測試以及光譜測試


方案詳情


方案配置主要由COC老化系統(PSS COC-BI-S-I)和測試機(PSS COCT2000)組成,老化系統由機架(PSS COCW2010)和單層老化箱(PSS COCL004)組成,夾具單獨配置,支持定制,可聯系銷售人員。

老化系統和測試機分別設計了上位機軟件,界面分別如下:


COC老化軟件界面可顯示10*4抽屜的老化進度、老化溫度,點擊每個抽屜,可展開32顆芯片的老化電流、電壓、背光電流數據、閾值結果;軟件可記錄操作過程日志以及所發生的異常。

COC測試軟件支持定位每顆芯片位置,自動完成LIV掃描以及光譜測試,滿足溫度,掃描電流等參數的配置,支持本地或服務器存儲數據,方便分析。


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