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TO老化測試

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普賽斯針對TO老化 測試分選有完備的測試方案,完美支持發端DFB/TEC-DFB/EML TO的老化測試分選,需要老化的APD端的老化測試分選以及不需要老化的PIN-TIA測試分選。能夠實現全流程的效率匹配以及數據庫統一,極大的減少了員工數量要求以及設備數據庫,網絡維護的要求。能夠有效的提升TO生產的效率和可靠性。具體的生產方案如下。

LD TO老化測試分選解決方案

APD-TIA TO老化測試分選解決方案

PIN-TIA TO測試分選方案


方案特點


1. LD/APD盤測機LD/APD老化設備,老化板相互兼容。整個過程不需要重新插拔物料

2. LD盤測LD老化設備,均支持軟件任意封裝的引腳切換。能夠實現一個老化板,兼容多種不同封裝的TO,節省老化板的費用

3. LD盤測設備,支持高溫測試,有效滿足25G工業級TO的測試要求

4. LD/APD老化設備最高支持3072 PCS老化規模

5. 老化和測試系統都具備完備的數據管理系統,支持本地數據庫,遠程SQL數據庫。數據庫之間數據相互關聯,能夠有效支持后端自動分選工藝數據要求

6. PIN-TIA測試分選一體機專門針對不做老化的PIN-TIA器件,支持封帽料盒以及輸出塑料收納盒。直接完成封帽到出貨之間的所有工藝流程。極大提高效率和生產自動化水平


方案詳情

測試方案

設備名稱

型號

設備特點

LD老化測試

TO56盤測機

PSS PAT-56-D

支持任意引腳封裝,軟件切換腳位


支持本地與遠程SQL數據庫
支持MPD暗電流測試與LD反向電流測試
豐富各種算法支持(Ith,KINK,Linearity)


TO56高溫盤測機

PSS PAT-56-H1


支持任意引腳封裝,軟件切換腳位
支持本地與遠程SQL數據庫
支持MPD暗電流測試與LD反向電流測試
豐富各種算法支持(Ith,KINK,Linearity)
支持常溫和高溫測試(RT+20~95°C)


EML TO盤測機

PSS PAT-56-EML


支持DFB/EML/SOA-EML/TEC-DFB TO測試
支持任意引腳封裝,軟件切換腳位
支持本地與遠程SQL數據庫
支持MPD暗電流測試與LD反向電流測試
豐富各種算法支持(Ith,KINK,Linearity)
支持ACR/焦距測試


LD集成式老化系統

PSS LDBI3002


支持3072老化規模,最高支持250mA電流
支持任意引腳封裝,軟件切換腳位
支持本地與遠程SQL數據庫
支持實時LD電壓,Im讀取功能
支持Ith(背光)測試功能,可提供多次對比測試結果以及合格判定條件設置
支持MES系統接口


APD老化測試

TO46盤測試機

PSS PAT-46-D


支持APD/PIN-TIA器件,任意引腳封裝,軟件切換腳位
支持本地與遠程SQL數據庫
支持APD/PIN Idark測試
支持調制光模式下D+/D-的動態波形測試


APD集成式集成式老化系統

PSS APDBI3001


支持3072老化規模,APD老化電流最高可到2mA
支持任意引腳封裝,軟件切換腳位
支持本地與遠程SQL數據庫
支持實時APD電壓,TIA電流讀取功能
支持MES系統接口


PIN-TIA測試分選

探測機組件測試分選一體機

PSS RTP2101

支持封帽料盒進料,塑料收納盒出料


支持客戶自定義的分BIN篩選
完善的圖像識別處理,有效識別管腳位置并分腳,插料
支持PIN-TIA/APD-TIA各種測試指標,包括調制光模式下D+/D-的動態波形測試
全自動,無人值守,UPH=550(典型值,需要測試RES耦光),UPH=800(典型值,不耦光)



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